Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Картотека статей - результаты поиска

Вид поиска
Электронный каталог НТГСПИ
Картотека газет и журналов
Картотека статей
Полнотекстовая база изданий НТГСПИ
Полнотекстовая база ВКР
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=коэффициент поглощения<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Виноградов, Евгений Леонидович (доктор технических наук; профессор), Тропец, Виктория Адамовна, Чекменев, Кирилл Алексеевич
Заглавие : Новый способ исследования оптических свойств запечатываемых материалов с применением сканирующих устройств, работающих на отражение
Серия: Материалы и технологии в современном дизайне
Место публикации : Дизайн. Материалы. Технология. - 2015. - № 1 (36). - С.53-56: 2 рис., 4 табл. - ISSN 1990-8997. - ISSN 1990-8997
Примечания : Библиогр.: с. 56 (3 назв.)
УДК : 535
ББК : 22.34
Предметные рубрики: Физика
Оптика в целом
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): коэффициент поглощения--оптические свойства--печатная бумага--отражение--пропускание--прогнозирование--рефлектометрия
Аннотация: Экспериментально доказано, что применение сканирующих устройств, работающих на отражение, позволяет определять усредненные параметры и светоотражения, и светопропускания запечатываемых материалов (в частности, печатной бумаги), а также количественно характеризовать их оптическую макронеоднородность.
Найти похожие
2.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Нгуен Хуи Фук (аспирант), Козюхин, Сергей Александрович, Разумовская, Ирина Васильевна
Заглавие : Оптические константы легированных Bi и In аморфных пленок Ge-Sb-Te, используемых в устройствах фазовой памяти
Серия: Фундаментальная наука вузам .
    Физико-математические науки
Место публикации : Преподаватель XXI век. - 2012. - № 3, ч. 2. - С.207-211: рис. - ISSN 2073-9613. - ISSN 2073-9613
Примечания : Библиогр.: с. 211 (11 назв.)
УДК : 535.2/.3
ББК : 22.343
Предметные рубрики: Физика
Физическая оптика
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): устройства фазовой памяти--фазовая память--энергонезависимая фазовая память--оптические диски--хранение информации--халькогенидные сплавы--оптические константы--легированные аморфные пленки--тонкие пленки (физика)--коэффициент поглощения--преломление--показатель преломления--оптический контраст
Аннотация: Работа посвящена изучению оптических констант (коэффициента поглощения и показателя преломления) аморфных пленок состава Ge[2]Sb[2]Te[5], легированных висмутом и индием. Для определения оптических констант тонких пленок использовался спектральный эллипсометр с бинарной модуляцией состояния поляризации. Были установлены корреляции между концентрациями легирующих примесей и значениями оптических констант.
Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
По словарю
Статистика обращений
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)